BMTインライン計測システム
ドイツBMT Grop(Breitmeier Messtechnik GmbH)社の非接触高速・高分解能表面スキャンシステムです。
シリンダー内部表面計測に最適です。
触覚ピックアップ
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計測ヘッド |
ピックアップは、独自のミニチュアフォームファクタと高いカットオプ周波数を持ち、高速で表面をスキャンする事を可能にします。
計測ヘッドには3つの小型ドライブユニットと統合されたピックアップが120°以内の角度で蝶番されております。
これらは、共通のモーターで放射方向に動作して、シリンダーの表面に当てられます。
ピックアップの下には、空気排出口があり、オブジェクトの表面から機械の破片を排除します。
個々のドライブユニットは、クイックセットクランプにより簡単に交換が可能です。
ユニットにはドライブユニットが持つDatumのレベルに対して、スキンヘッドレス計測を実現します。
この計測システムは、スタイラスの前面及び背後にの2点に垂直に固定されたガイドブレーンにより構成されております。
ピックアップはDatumに関連するワークピース表面を計測します。
これにより、非常に小さい計測ループを実現しております。
ビジュアルチェック
この広範囲スキャン装置を採用する事により、シリンダー表面の自動化され
た可視化検査及び結果の文書化を可能にします。
ホーニング角度、ホーニング構造、Poreサイズ及び分布、研磨範囲、no-
clean-up範囲、傷、穴、欠損、炭化範囲、擦り傷、腐食範囲は顧客の要求に
応じて評価されなくてはいけない項目です。
スキャナモジュールは、粗さ計測ヘッドに簡単に統合出来る他、2つ目のステ
ーションとしてスタンドアローションモジュールとして使用される事ができます。
カメラベースのシステムとの決定的な違いは、高速で高分解能で全てのシリ
ンダーの表面をスキャンする能力があることです。結果として、シリンダーの
一部だけではなく、全体の画像を得ることが出来ます。
シリンダー表面は、統合された光源を持つリニアフォトダイオードアレイを使
用してスキャンされています。スキャンニングヘッドは、ソフトウェア制御で、
自身によりセンタリングを行い、全ての共通シリンダーサイズに適応します。
アプリケーション
シリンダー内部の表面検査
ホーニング構造の評価
特長
非接触、高速、自動化シリンダー表面検査
スキャン及びプレビューモード
スキャナーのモーター化された下げ及びセンタリング
全ての共通シリンダーサイズに適応
pore及びno-clean-up定義及びホーニング構造評価用のオプション
ソフトウエア評価モジュール
QDAS、Excel、ASCII等の様々なデータ出力フォーマット
利点
表面欠陥の検知
快適な画像文書化及び表面構造の保存
シリンダーボアの外部に装置が配置されますので、上部シリンダーに死角なく、シリンダー表面全体をスキャンすることが出来ます。
ホーニング構造解析及びシリンダー表面検査
画像は、ホーニングされた表面のスキャンされた表面を現しています。この評価ソフトウエアは、欠陥の検知 のほかに、可視化された検査及びホーニング構造の定量的キャラクタライぜーションを可能にします。
ユーザーにより選択された位置でのホーニング角度の算出。
計測角度及び位置は一緒に保存され、ホーニング構造の画像も保存されます。
ホーニング角度分布はシリンダー表面全体に分布のホーニング角度の種類を表します。
PeridogramはFFT変換をしようとして算出されます。マシーニング処理により、2つのホーニンググループのマークは異なります。ホーニンググループ群の同質性及び関連するマークは数値のパラメータで表示されています。
高品質、高分解能の部分画像は、オプションの内臓カメラにより撮影可能です。
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スキャンされたシリンダー表面 |
仕様
ピックアップタイプ | インテリジェント小型スキッドレス |
方向 | 任意方向 |
範囲(μm) | ±100またはタスクにより対応 |
分解能(bit) | 15 |
計測不確実率(%) | <0.5% |
スタイラス引込み | ソフトウエア制御 |
信号変換 | 光学 |
信号出力 | デジタル |
内部情報メモリー | ピックアップ特定データ |
スタイラス | クイックチェンパーツ |
スタイラス半径(μm) | 2/5 |
スタイラス角度(°) | 90 |
動作温度(℃) | 5~65 |
ドライブユニット | 小型設計 |
Datum | ガラス |
サンプリング長さ(mm) | 12 |
Pivot-hung 2点サポート | |
非常に小さい計測ループ | |
ピックアップ及びドライブは簡単に取り外し可能 | |
PC計測ボード | |
16個のピックアップ同時制御可能 | |
ソフトウェア | Rkパラメータの計測 |
カスタマイズされたpore評価 | |
ホーニング角度算出 | |
ホーニング構造評価 |