サイトマップ

Nihon Binary

トップページ > 製品・ソリューション案内 > 医療・ライフサイエンス > 顕微鏡関連 > MultiScan AFM3000

原子間力顕微鏡 MultiScan AFM3000

特徴

非常に簡単な操作、強力なモジュラー性による卓越した使い勝手

MultiScan 計測ヘッド: 他に類のない安定性

豊富な計測モード

  ・コンタクト
  ・ノンコンタクト
  ・振動コンタクト
  ・力変調
  ・フリクッション
  ・接着顕微鏡法
  ・力分光法
  ・位相コントラスト法

ナノレンジから800μm x 800μmまでのスキャン領域を1つの計測ヘッドで対応

化学変化観察

Chemical Contrast Imaging(AFM-CCI)標準装備

不活性ガスオプションおよび液体内の計測対応

資料位置での温度および湿度の直接計測が可能

Nanogalvanics(GalvanoScan)、Nanotribology 消耗検査   (TriboScan)、腐食(CorroScan)およびナノ構造(LithoScan) などのオプションソフトウェア

データ評価用のカスタマイズソフトウェアも対応

多様な試料でのアプリケーションノート用意



概要

ドイツBMT Grop(Breitmeier Messtechnik GmbH)社の原子間力顕微鏡です。
ドイツ・カールスルーエ工科大学 Thomas Schimme 教授 開発のケミカル コントラスト イメージングです。
ナノスケールの処理技術や素材は、産業用途において一段と重要な役割を演じるようになってきています。
燃焼機関の消耗過程、新世代の潤滑系製品、防食塗装コーティング、モダンペイント、半導体製品、さらには医療技術において、もはや不可欠な要素になっています。
このため従来とは異なる手法で、表面処理やコーティング、および材料の機能的特性を、包括的に特徴付ける必要が生じています。
すなわち、化学的変化や腐食、磨耗などを、最小スケールで可能な限り高い空間分解能で観察する必要性です。
そしてこれを実現するのが、極めて柔軟なスキャニング手法を用いることで、マイクロスケールの0.2mmから原子格子レベルに至るまで1台の装置で実現できる、AFMすなわち原子間力顕微鏡なのです。
BMT社のMultiScan AFM 3000は、最新のラスタースキャニング原子間力顕微鏡で、卓越した柔軟性を可能にするモジュラー設計を大きな特徴としています。
操作も非常に簡単で、日々の使用に最適な観察装置となります。ドイツ・カールスルエー工科大学のThomas Schimmel教授の開発による独自の計測モード Chemical Contrast Imaging (AFM-CCI) が用意されており、これによって表面の極小な化学作用を観察することが可能になります。
腐食、磨耗、酸化といった現象の変化の過程を、その発生段階からミクロンおよびナノスケールで観察することができます。
付属の専用ソフトウェアMulti Imageによって、試料表面の異なる属性を同時に観察することができ、さらに摩擦、磨耗、接触剛性、または化学的コントラストのために、形状の画像生成を行うことができます。


AFMトポグラフィー

変化の大きい集中部分の化学的 特性の違いを視覚化したもの。
溶剤を加えたシリコンウェハー表面

AFMトポグラフィー

Chemical Contrast Imaging
(表面上への化学修飾の発現)
グラファイト上の1電子層厚のエッチング穴(空気中650℃で酸化後)

AFMトポグラフィー

Chemical Contrast Imaging


最新の技術による先端の設計思想

振動に強くあらゆる環境下でのロバストなオペレーショーン

強力なヘルプ機能搭載、簡単操作の直感的ソフトウェア

すべての装置的機能が標準装備

モジュラー機器設計による柔軟性と拡張性

トポグラフィーとケミカルコントラストイメージングが可


カルサイトの原子格子の直接画像
画像領域:約7nm x 7nm

高分子ラテックスボール
スケール4μm x 4μm

左の拡大写真スケール1μm x 1μm
自然な球状から六角形への変化を簡単に見ることができる


仕様

サンプルサイズ 25mm x 25mm
ステージ移動 最大 20mm x 20mm XY方向
(より大きなカスタムサイズ対応可能)
ステッピングモーター 15mmストロークZ方向
使用環境 通常環境でのルーチングオペレーション
分解能 最小原子スケール
操作アクセス 上および側面からの直接光学アクセス
エレクトロ二クス デジタルコントローラ、PC経由(USB)
ソフトウェア ユーザーフレンドリーな計測およびデータ評価用パッケージ
データ取り込み 複数チャンネルを並列に同時測定および表示(トポグラフィーとケミカルコンテスト
データ解析 画像処理および解析用包括的ソフトウェア(統計機能、粗さ評価などを含む)
キャリブレーション キャリブレーションスタンダード付属




ページトップへ戻る