NanoStation 2000は波長コンフォーカル方式の
非接触3次元形状計測システムで、ナノテクノロジー
を駆使したシステムであり、最高2ナノメートルの
高分解能で物体表面の高さ測定を行う事ができる
表面欠損検査には最適のシステムです。

NanoStation 2000は微小形状、表面粗さ、組織解析といった高さ計測をはじめ、薄幕やガラスなどの厚さ計測や表面欠損、
異物検査などの用途にも最適な多目的な小型スコープ計測システムです。
波長コンフォーカル方式の特徴のひとつとして、基本的に光を反射する物体であればあらゆる対象物の測定が可能です。
鏡面や光沢面といった従来の方式では困難とされていた対象をはじめ、透明体、不透明体、反射物・拡散表面、後方積乱面を
問わず計測が可能です。このため、金属やガラス、プラスチック、合成樹脂、木材、紙、繊維、皮革など、さまざまな材質の
測定に使用する事が出来ます。

NanoStation 2000は、光源と分光・制御部を収めたコントローラ、測定深度20μmあるいは300μmの光学ペン、コンパクト
なXYステージ、そして使いやすいソフトウェアを搭載したWindowsパソコンで構成されています。
システムの核となるコントローラと光学ペンは、最高1kHzの測定周波数でのリアルタイム計測が可能で、オプションで最高
30kHzへの対応が出来ます。 また、特別な用途のために、最大24ｍｍまでの測定深度を持つ光学ペンも用意されています。
XYステージは顕微鏡用の高精度電動ステージを採用、小型ながら高分解能ステップと反復性を実現、コンパクトな制御ユニット
はステージ移動に便利なジョイスティックを備えています。
さらにオプションのCCDカメラを搭載することで、ビデオ映像による位置決めを行う事が出来ます。
システムに含まれるソフトウェアはSPIP画像解析ソフトウェアのプラグイン形式になっていますので、測定データの保存や
画像処理・可視化が簡単に多用な形式でおこなうことが出来ます。

・WindowsXP Professional対応：SPIP画像処理ソフトウェア用プラグイン
・測定条件設定
・データ保存：ASCII、Bitmap、JPEG、TIFFなど
・傾き補正、プロファイル作成、3D表示など
・粗さ解析など各種オプションモジュール

	NanoStation 2000/20	NanoStation 2000/300
測定深度	20μm	300μm
作動距離	0.37mm	5mm
Z軸分解能	2nm	10nm
Z軸精度	10nm	90nm
測定スポット径	3μm	8μm
測定周波数(最高)	1000Hz	1000Hz
光源	50W ハロゲン	50W ハロゲン
電源	85～240VAC、 50/60Hz	85～240VAC、50/60Hz
消費電力	100W	100W
XY軸 移動範囲	100mm×100mm	100mm×100mm
XY軸 分解能	1.5μm	1.5μm
XY軸 移動速度	7mm/秒	7mm/秒
Z軸 稼動範囲(手動)	80mm	80mm